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XT V160尼康 X-TEK xray檢測設備
簡(jiǎn)要描述：尼康 X-TEK xray檢測設備 XT V 160系統范圍具有亞微米特征識別功能，可滿(mǎn)足當今對復雜電子元件進(jìn)行高性能、無(wú)損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線(xiàn)源與平板探測
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